X射线衍射仪(XRD)及X射线光电子能谱仪(XPS)技术原理及其在材料表征方面的应用
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发布日期:2025-05-21 15:50:48
XRD通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段,用于确定晶体结构。XPS不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息,还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、化学状态、分子结构、化学键方面的信息。
王宁,理学博士,河北师范大学分析测试中心副研究员,硕士生导师。主要从事新能源材料的开发与利用研究。2017年7月-2018年6月在美国加州大学圣地亚哥分校(UCSD)访学,主要开展新型锂离子电池正极材料的研究。目前已经在Applied Surface Science、Nanoscale、Journal of Power Sources、 Energy、Nanotechnology、International Journal of Hydrogen Energy和International Journal of Energy Research等期刊发表SCI研究论文20多篇,申请并授权专利3项。参与并主持国家、省级以及省教育厅等多项课题。目前主要负责分析测试中心的X-射线衍射仪(XRD)和X-射线光电子能谱仪(XPS)的实验和测试工作。
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