高分辨质谱成像技术在神经退行性疾病及肿瘤标志物原位检测中的应用
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发布日期:2026-05-08 19:50:45
主 讲 人 :韩康 高级实验师
活动时间:2026-05-13 15:00:00
地 点 :理科群5号楼214会议室
主办单位:分析测试中心
讲座内容:
质谱成像是以质谱技术为基础的成像方法,该方法通过离子源直接扫描生物样品成像,可以在同一张组织切片上同时分析数百种分子的空间分布特征。技术优势包括:无标记检测技术,无需放射性同位素或荧光标记,无需染色;待检测物质多样,不局限于特异的一种或几种分子,可以对非目标物质同时进行成像分析;既可获得分子的空间分布信息,还能够提供目标物质的分子信息;可直接分析组织切片或细胞,样本兼容性高。本讲座结合分析测试中心先进的AP-SMALDI Orbitrap和DESI高分辨质谱成像仪,围绕新型质谱成像技术的原理创新与功能拓展展开,重点论述该技术在脑组织与肿瘤组织中原位成像铁及相关代谢分子的能力,并探讨其在基础研究与临床病理诊断中的潜在应用前景。
主讲人介绍:
韩康,高级实验师,博士研究生。多年从事铁代谢与神经退行性疾病以及脑梗死之间的相关研究工作。所在铁代谢基础与应用研究团队获得了河北省“巨人计划”创新创业团队称号。参与多项国家自然科学基金,主持河北省自然科学基金项目,发表数篇SCI文章,申请质谱成像相关发明专利1项。
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